射頻探針的接觸是用鈹-銅制作的。最早采用射頻探針技術(shù)與今天的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過(guò)探針基片上一個(gè)小孔而與被測(cè)器件（DUT）的壓點(diǎn)相接觸。當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí)，線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。高頻測(cè)量使用的極尖設(shè)計(jì)與用于直流和低頻測(cè)量的極尖不同，而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點(diǎn)。之后工程師在探針技術(shù)上取得了突破。確定了射頻探針的基本要求和工作原理技術(shù)。

射頻探針要求和原理：

       1） 探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。

　　2）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的

　   3） 為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱為“探針的平面化”。

　　4） 探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專用校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。

射頻探針應(yīng)用場(chǎng)景：

　　1）射頻和微波模塊信號(hào)插入，檢測(cè)和測(cè)量輸出；

　　2）高頻電路板電氣性能分析；

　　3）高速數(shù)字電路分析

 射頻探針優(yōu)勢(shì)：

　　1. 容易探測(cè)測(cè)試沒(méi)有任何焊接過(guò)的電路板信號(hào)

　　2. 兼容 pogo 大頭針允許探索non-planar 結(jié)構(gòu)

　　3. 探針的使用壽命更加長(zhǎng)久

　　4. 較少測(cè)試時(shí)間