ICT測(cè)試探針的定義：就是在線測(cè)試(ICT,In-Circuit Tet).是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷或元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試手段。即檢查制成板在線元器件的電氣性能和網(wǎng)絡(luò)連接的情況

ICT測(cè)試探針的具體測(cè)試內(nèi)容：主要檢查在線的單個(gè)元器件、各電路及電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、方便快捷、定位故障準(zhǔn)確等特點(diǎn)。通過(guò)直接對(duì)在線元器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。對(duì)于元件類可檢查出元件值的超差、失效、損壞、Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路、元件插錯(cuò)、插反、漏裝、管腳翹起、虛焊、PCB短路、斷線等故障。

  測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)店上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多的專業(yè)知識(shí)，采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒指幾十秒之間。

ICT測(cè)試探針的好處：在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中的第一道測(cè)試工序，能夠及時(shí)反映生產(chǎn)制造的狀況，利于工藝改進(jìn)的提升。經(jīng)過(guò)ICT測(cè)試過(guò)的故障板可大幅度提高生產(chǎn)和減少維修成本。其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)質(zhì)量保證的重要測(cè)試手段之一。

ICT測(cè)試的應(yīng)用范圍：用于定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光耦、變壓器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等。

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