ICT（In-Circuit Test，在線(xiàn)測(cè)試）探針是用于檢測(cè)電路板上電氣連接和元件性能的工具，在電子制造業(yè)中，ICT測(cè)試探針扮演著至關(guān)重要的角色，它們通過(guò)物理接觸點(diǎn)測(cè)量電壓、電流和電阻等參數(shù)，從而判斷電路功能是否符合設(shè)計(jì)要求，以下是對(duì)ICT測(cè)試探針的詳細(xì)介紹：

1. 基本概念與作用：ICT測(cè)試探針主要用于電路板上的單個(gè)元件及其連接進(jìn)行檢測(cè)。通過(guò)這些探針，可以有效識(shí)別電路板上的開(kāi)短路問(wèn)題、元件缺失或錯(cuò)誤以及焊接不良等問(wèn)題，ICT測(cè)試能夠極大地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本，因?yàn)樗沟眉词闺娮蛹夹g(shù)水準(zhǔn)一般的工人也能輕松處理有問(wèn)題的PCBA。

2. 類(lèi)型與特點(diǎn)：市場(chǎng)上存在多種類(lèi)型的ICT測(cè)試探針，包括彈簧探針、Pogopin探針和焊珠探針等，彈簧探針以其良好的電導(dǎo)性和耐用性而著稱(chēng)，常用于ICT測(cè)試；Pogopin探針則以其緊湊的設(shè)計(jì)和穩(wěn)定的連接性能受到青睞，適合于FCT（功能測(cè)試）等需要頻繁接觸和分離的測(cè)試場(chǎng)景。

3. 選擇標(biāo)準(zhǔn)：在選擇ICT測(cè)試探針時(shí)，需要考慮多個(gè)因素以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率。這些因素包括待測(cè)對(duì)象的間距、測(cè)試承載的電流、探針的長(zhǎng)度和彎曲度、所需的彈力以及測(cè)試運(yùn)動(dòng)行程等，例如，對(duì)于高密度、高精度的電路板，可能需要選擇直徑更小、精度更高的探針；而對(duì)于需要頻繁接觸和分離的測(cè)試場(chǎng)景，則需要選擇耐磨性更好、連接更穩(wěn)定的探針。

4. 應(yīng)用領(lǐng)域：ICT測(cè)試探針廣泛應(yīng)用于電子制造行業(yè)，包括消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域，在半導(dǎo)體芯片測(cè)試中，ICT測(cè)試探針也發(fā)揮著重要作用，用于BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等多種封裝芯片的老化測(cè)試。

5. 發(fā)展趨勢(shì)：隨著電子技術(shù)的不斷進(jìn)步，ICT測(cè)試探針的設(shè)計(jì)和制造也在不斷創(chuàng)新。為了滿(mǎn)足更高的性能要求和更廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，新型探針采用了特殊的涂層材料或結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以提高其耐磨性、耐腐蝕性和導(dǎo)電性能，同時(shí)，市場(chǎng)對(duì)高精度、高可靠性的測(cè)試探針需求日益增長(zhǎng)，這也推動(dòng)了探針技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用范圍的擴(kuò)大。

綜上所述，ICT測(cè)試探針是電子制造業(yè)中不可或缺的工具之一。它們通過(guò)物理接觸點(diǎn)測(cè)量電路板上的電氣參數(shù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地識(shí)別并修復(fù)生產(chǎn)過(guò)程中的問(wèn)題。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和市場(chǎng)需求的多樣化，ICT測(cè)試探針的設(shè)計(jì)和制造也將不斷創(chuàng)新以滿(mǎn)足更高的性能要求和更廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景。